智现未来eDataLyzer是高性能数据分析平台，具有独有的深入分析法-Drill Down Analysis，快速、精准找出影响良率的因素，进行根因分析，有利于工程师把控良率和生产率。
由Map Analyzer（图像分析）、IntelliMine（智能挖掘）、Trace Analyzer（跟踪分析） 三种主要数据分析工具构成。
eDataLyzer
大数据智能良率分析平台

高级分析需求难满足

只能满足日常性的不良/Defect 的分析，随着业务需求增加以及数据量增加，无法满足客户的高级分析需求

操作复杂，增加分析难度

操作复杂，对使用用户的要求高，必须熟悉算法，方差分析，回归分析，PLS/PCA 等算法

分析范围有限

一般只能分析到设备Summary Data级别，无法分析FDC Trace Raw data
传统分析工具的痛点
（DMS/EDA）
优势一：高效的数据管理体系及可访问性
eDataLyzer可高效整合所有的数据类型及提供灵活的可访问性，被视为最全面的根因分析平台。
Map Analyzer（MA）
IntelliMine (IM）
Trace Analyzer
Map Analyzer （图像分析） 1. 自动感知系统化的 Wafer map pattern 及分类；
2. 整合所有类型的 Wafer map 的 Spatial data 及分析其相关关系；
3. 根据Die大小，跨不同产品自动识别 Pattern。

IntelliMine (智能挖掘) 1. 对各种类型的大容量数据进行快速准确的挖掘，快速识别影响良率的因素；
2. 影响的设备或 Chamber IntelliMine (IM)
Trace Analyzer （跟踪分析） 1. 利用 Full Trace 的深度原因分析 2. 挖掘工艺过程对良率产生影响的各种变化
优势二：最佳的根因分析应用程序
产品价值
重点功能
适用行业
半导体 半导体生产设备 FPD LED PCB/SMT 钢铁/汽车/生命科学
1. 易于连接各种生产数据，快速建立综合分析平台；
2. 简化了分析过程，提高分析效率；
3. 将根因分析过程从几周或几个月缩短到几小时。

1. 自动识别 Wafer map 并通过数据挖掘 从大量数据里快速找出相关性 2. 人工智能驱动的跟踪分析，定位到根本原因 3. 基于用户自定义的智能自主的根本原因分析